一. 測試目的

爲瞭防止人體受到傷害 , 單體內(nèi)如有如下不良 : 螺絲鬆動, 未鎖, 零件腳裂錫, 未焊, 冷焊以及零件腳沒有插入孔內(nèi), 變壓器及零件絶緣度不佳或絶緣間隙距離不夠, 螺絲或其牠異物掉落其中,  FUNCTION 測試無法偵測到異常之狀態(tài) , 因而, 從保護産品質(zhì)量和産品的安全規(guī)則要求的角度齣髮, 必鬚要能檢測齣這些不良, 靜態(tài)時, 單體內(nèi)上述不良, 測試設(shè)備難找齣, 隻有將單體放置, 於振動繫統(tǒng)中, 上述不良纔可通過儀器設(shè)備測齣來 .

二. 測試原理

1. HI-POT TEST< 高壓絶緣測試 >:  利用高壓加於某一有絶緣程度的物體兩端 , 通過漏電流的大小來判知物體之間絶緣性是否達到其絶緣的規(guī)格之要求, 在此, 我們是把單體的 NEVTRAL 與 LINE 短路接於高壓 HV 端 , 輸齣端與地線短路接曏 RETURN 端 , 加入高壓, 量測漏電流之大小, 來判定輸入端與輸齣端, 以及輸入端對接地端絶緣度是否符閤安全規(guī)格之要求。

2.GROUND CONTINVITY( 接地測試)： 對AC輸入端的GND及待測物的外殼灌入25A的電流,測得地線與外殼不能完全接觸,這樣測量得阻值會大於0.1Ω.隻有通過GROUND CONTINUITY 測試纔符閤安規(guī)要求,

3.ARCING TEST(電弧測試)： 當高壓的兩端靠很近時,會有尖端放電現(xiàn)象産生,此一現(xiàn)象經(jīng)長時間的髮生將可能對産品産生很大的傷害,較常見的現(xiàn)象有,當要元件兩端加高壓時,元件腳有一箇未焊住,但與焊點有接觸,在振動時,偶爾脫開很小幅度,從而産生尖端放電或有些元件絶緣層有少許的颳傷。                                       

a. ARCING定義：ARC爲一物理現(xiàn)象,通常是指兩端點之間,因距離不夠或介質(zhì)存在,           而在通電時産生的一箇跳火現(xiàn)象,此跳火現(xiàn)象通常爲非連續(xù)性的,ARCING偵

b. 測的目的：ARC的産生,併不會造成産品立卽故障或?qū)θ梭w傷害的問題,但牠會隨使用時的的增長,而造成兩端點間的絶緣日益破壞,進而造成機器的故障或?qū)θ梭w的危害,例如 ” SPS內(nèi)的PCB的螺絲鎖緊,可能會因工作一段時間後,中間介質(zhì)阻抗改變,造成浮動電位,進一步破壞PCB內(nèi)部元件,或因ARC的産生,影響SPS的正常工作.因此ARC偵測的目的在防患未然,也可説是産品可靠度試驗,

c. ARC偵試線路原理：在ARC的定義列ARC爲非連續(xù)性的,且約爲1KHZ以上的PLUSE OR SPIKE 的高頻信號,因此ARC偵測線路原理如下：

從被測物電流訊號經(jīng)過兩迴路 ,一爲20 — PASS  FILTER,20 — PASS  FIELTER是將電流信號轉(zhuǎn)換成 RMS值,以便量測與判定,HI — PASS  FILTER則是當被測物電流信號有 ARC(高頻信號)産生時,將低頻濾掉,隻留高頻信號,併經(jīng)過量測與判彆,以上爲ARC偵測線路原理.

d. ARC功能偵測計祘：ARC的産生與兩端點間的電壓與距離有關(guān),因此,ARC的産生通常在高壓時産生 ,也就是在波峰産生,併且ARC的高頻訊號也是載在波峰上故計祘與量測方式都是以 MHP：

例 (一)：

測試電壓 AC1250VAC時：

VP=1250*√2=1768V,以電阻500KΩ做介質(zhì)

GAP=兩端點距離調(diào)整至AR C 剛好産生 ,約0.5MM左右

因此 ,ARC電流爲I=V/R=1768 / 1500K=3.5MAP

從上述來看 ,可歐姆定律來計祘,但此爲理論值,故我們必鬚考慮各種誤差的可能,如GAP大小,電阻含 性等因素.

e. ARC 等級説明 :

9等級( 0.0027A)

8 等級 (0.0055A)

7等級(0.0077A)

6等級(0.0100A)

5等級(0.0120A)

4等級(0.0140A)

3等級(0.0160A)

2等級(0.0180A)

1等級(0.0200A)

三.  測試設(shè)備：

1. AC WITHSTANDING VOLTAGE   TESTER(交流抗壓測試器)

2. AC 20W RESISTANCE   TESTER(交流低電阻測試儀)

3. 振動機颱 .

四 . 測試項目

1. HI-POT   TEST   (高壓測試)

2. ARCING TEST   (高弧測試)

3. GROUND CONTINUITY TEST(接地測試)

4. INSULATION     ( 絶緣阻抗測試 )

五 .儀器操作(以7440爲蔘考)

1. WITHSTANDING  VOLTAGE  TESTER 選擇項目選按AC-W鍵：

W-VOLT     1500V         （按數(shù)字鍵輸入）

HIIMIT      13 M A          (按數(shù)字鍵輸入)

L O-LIMIT    8.0MA         (按數(shù)字鍵輸入)

RAMP TIME    1S           (按數(shù)字鍵輸入)

DWEU TIME    3S           (按數(shù)字鍵輸入)

FREQVENCY   60HZ         (已設(shè)定好)

ARC  SENSE     8           (已設(shè)定好)

ARC  FAIL      ON          (按ENTER鍵切換ON/OFF)

SCANNER SETCH             (未用)

OFFSET                      (未設(shè)定)

CONNECT     ON或OFF     (按ENTER鍵切換ON/OFF)

按 “V ” 鍵上下翻頁按 ‘ENTER ’ 自動存儲 ,AC或DC請按ENTER鍵切換,設(shè)定一樣慾知詳細設(shè)定 ,請蔘考使用者手冊.

AC  LOW  RESISTANCE  TESTER

先按： GROUNDING後

CURRENT     25A       (已設(shè)定好)

CURRENT      25A         (已設(shè)定好)

VOLTAGE       8V          (已設(shè)定好)

HI-LIMIT      0.1MΩ       (按數(shù)字鍵輸入)

20-LIMIT       0MΩ        (按數(shù)字鍵輸入)

PWELL TIME    2S          (按數(shù)字鍵輸入)

FREQUENCY  60HZ或50HZ  (按數(shù)字鍵輸入)

SCANNER       CH          (未用)

OFFSET                      (未設(shè)定)

CONNCT      ON或OFF     (按ENTER鍵切換)

按 ‘ENTER ’ 鍵結(jié)束

六 . 儀器檢查

1.HI-POT的檢查

治具原理 :用一箇固定電阻箱檢查HI-POT的輸齣電壓,根據(jù)線路原理:U=IR,計祘齣治具檢

測時之漏電流值 ,併作DAILY  CHECK之比較依據(jù).      按 MEMORY鍵,輸入治具上標明之電流蔘數(shù),接好FAIL SAMPLE按TEST,應(yīng)聽到蜂嗚器的叫聲 ,且電流值應(yīng)大於FAIL  SAMPLE上標明之漏電流值 .

七 . 測試判定

測試不良分以下幾種 :

BREAKDOWN            OVER FLOW+ARC: 輸齣過載 , 電弧信號

SHORT                   OVER FLOW :輸齣過載

HI LIMIT FAIL            OVER HI LIMIT SETTING :  電流過 大 失敗

ARC FAIL                >10VS PEAK CURRENT DETECTING

LO LIMIT FAIL           UNDER LO LIMIT SETTING :  電流過小失敗

OPEN                     CHANGE LO :  直流電壓緩陞充電電流

OFL                     OVER FLOW : 輸齣過載

主題        Q. 耐壓測試與絶緣電阻測試之間有什 麼 不衕呢？

IR 測試是一種定性測試，牠給齣絶緣繫統(tǒng)的相對質(zhì)量的一箇錶示。通常用 500V 或 1000V 的 DC  電壓進行測試，結(jié)果用兆歐電阻來量測。耐壓測試也給被測物 (DUT) 施加高壓，但所加電壓比 IR  測試的高。其可以在 AC 或 DC 電壓下進行。結(jié)果用毫安或微安來量測。在有些規(guī)格中，先進行 IR 測試，接著再進行耐壓測試。如果一箇被測物 (DUT) 無法通過 IR 測試，則此被測物 (DUT) 也無法通過在更高的電壓下進行的耐壓測試。

主題         Q. 洩漏、擊穿 ( 崩潰 ) 和電弧之間有什 麼 不衕？

洩漏就是通過絶緣繫統(tǒng)洩漏的電流。擊穿 ( 崩潰 ) 是指通過或者跨越絶緣繫統(tǒng)的破壞性放電，其導(dǎo)緻通過絶緣繫統(tǒng)的電流突然大增。電弧是在過量的洩漏電流流過時可能齣現(xiàn)也可能不齣現(xiàn)的一種情況。當被測設(shè)備的某一區(qū)域的絶緣繫統(tǒng)失效，因而電壓自一導(dǎo)體錶麵曏另一導(dǎo)體錶麵閃電時就齣現(xiàn)電弧。電路的阻抗可能高得足以限製流過的電流，因而不導(dǎo)緻絶緣的完全失效。電弧的強度和牠的持續(xù)時間決定高壓測試何時探測齣失效情況。有些高壓儀有靈敏得足以探測電暈放電的電弧探測電路。在測試期間的電暈放電不一定錶示初始擊穿情況。有些設(shè)備，尤其是有電動機的設(shè)備，在高壓測試當中通常呈現(xiàn)電暈放電

主題            華儀安規(guī)儀器如何量測電弧 ?

電弧是一箇 物理現(xiàn)象 ，華儀電子經(jīng)過大量的統(tǒng)計和客戶統(tǒng)計數(shù)據(jù)的反饋，將此 物理現(xiàn)象 進 行瞭量化，使之成爲可以量測的物理量，一般高阻抗電弧與電暈産生的高頻脈衝，其頻率 可在低於 30 韆赫至高於 1 兆赫範圍內(nèi)變動，而且持續(xù)時間可能很短。這些脈衝常常持續(xù)不足 10 微秒（如圖一），這些短時脈衝或尖峰信號不一定會立卽導(dǎo)緻擊穿放電所以可以被乎略。

圖一

華儀安規(guī)儀器中有一箇專門的電弧偵測繫統(tǒng)（如圖二），牠通過一箇對於 10KHz 以上頻率迴應(yīng)的高通濾波器將大於 10KHz 以上的高頻脈衝信號輸入一比較器，然後和儀器內(nèi)部的一箇靈敏度調(diào)節(jié)器所産生的資料作比對，因爲華儀經(jīng)過長時間的統(tǒng)計和客戶反饋認爲，10KHz 以上的電弧脈衝對於被測物品質(zhì)帶來直接影響的機率最高。儀器內(nèi)部靈敏度分爲1 ～ 9 箇級彆，每箇級彆代錶的偵測的電流峰值。 ( 如錶一所示 )

圖二

錶一

儀器電弧失效報警顯示的意義：

例如，當儀器設(shè)定 ARC ON 時，併且選定 ARC  靈敏度爲齣廠預(yù)設(shè)值 5 時，儀器檢測 DUT 報警提示  ARC Fail ，意味這華儀的安規(guī)儀器，偵測到該被測物 (DUT) 內(nèi)部被偵測到一箇峰值大於12mApeak ，頻率大於 10KHz 的高頻電弧脈衝。

如何確定選擇靈敏度 爲 多少？

華儀的安規(guī)儀器齣廠電弧靈敏度的預(yù)設(shè)值爲 5 ，是因爲我們自己本身經(jīng)過統(tǒng)計，而且我們的一些客戶如 IBM 也經(jīng)過長時間的使用後統(tǒng)計的結(jié)果，認爲 5 是比較可以接受的一箇數(shù)位，而且 IBM 還曾經(jīng)書麵通知牠的外協(xié)廠使用華儀安規(guī)儀器的時候，將電弧靈敏度設(shè)爲 5 。靈敏度太高可能造成不良率高，不符閤成本平衡，太低又可能對産品的質(zhì)量留下長遠的憂患。因此如何選擇靈敏度級彆，應(yīng)該由用戶自己根據(jù)産品特性經(jīng)過一段時間的統(tǒng)計，充分考慮瞭不良率高低的情況等各種因子，來決定靈敏度高低。

IEC 60950-1 & IEC 60335-1  新舊版本安規(guī)測試項目差異比較