一.測(cè)試目的

為了防止人體受到傷害, 單體內(nèi)如有如下不良 : 螺絲松動(dòng), 未鎖, 零件腳裂錫, 未焊, 冷焊以及零件腳沒(méi)有插入孔內(nèi), 變壓器及零件絕緣度不佳或絕緣間隙距離不夠, 螺絲或其它異物掉落其中, FUNCTION測(cè)試無(wú)法偵測(cè)到異常之狀態(tài), 因而, 從保護(hù)產(chǎn)品質(zhì)量和產(chǎn)品的安全規(guī)則要求的角度出發(fā), 必須要能檢測(cè)出這些不良, 靜態(tài)時(shí), 單體內(nèi)上述不良, 測(cè)試設(shè)備難找出, 只有將單體放置, 于振動(dòng)系統(tǒng)中, 上述不良才可通過(guò)儀器設(shè)備測(cè)出來(lái).

二.測(cè)試原理

1.HI-POT TEST<高壓絕緣測(cè)試>: 利用高壓加于某一有絕緣程度的物體兩端, 通過(guò)漏電流的大小來(lái)判知物體之間絕緣性是否達(dá)到其絕緣的規(guī)格之要求, 在此, 我們是把單體的NEVTRAL與LINE短路接于高壓HV端, 輸出端與地線短路接向RETURN端, 加入高壓, 量測(cè)漏電流之大小, 來(lái)判定輸入端與輸出端, 以及輸入端對(duì)接地端絕緣度是否符合安全規(guī)格之要求。

2.GROUND CONTINVITY(接地測(cè)試)：對(duì)AC輸入端的GND及待測(cè)物的外殼灌入25A的電流,測(cè)得地線與外殼不能完全接觸,這樣測(cè)量得阻值會(huì)大于0.1Ω.只有通過(guò)GROUND CONTINUITY 測(cè)試才符合安規(guī)要求,

3.ARCING TEST(電弧測(cè)試)：當(dāng)高壓的兩端靠很近時(shí),會(huì)有尖端放電現(xiàn)象產(chǎn)生,此一現(xiàn)象經(jīng)長(zhǎng)時(shí)間的發(fā)生將可能對(duì)產(chǎn)品產(chǎn)生很大的傷害,較常見的現(xiàn)象有,當(dāng)要元件兩端加高壓時(shí),元件腳有一個(gè)未焊住,但與焊點(diǎn)有接觸,在振動(dòng)時(shí),偶爾脫開很小幅度,從而產(chǎn)生尖端放電或有些元件絕緣層有少許的刮傷。                                       

a. ARCING定義：ARC為一物理現(xiàn)象,通常是指兩端點(diǎn)之間,因距離不夠或介質(zhì)存在,           而在通電時(shí)產(chǎn)生的一個(gè)跳火現(xiàn)象,此跳火現(xiàn)象通常為非連續(xù)性的,ARCING偵

b. 測(cè)的目的：ARC的產(chǎn)生,并不會(huì)造成產(chǎn)品立即故障或?qū)θ梭w傷害的問(wèn)題,但它會(huì)隨使用時(shí)的的增長(zhǎng),而造成兩端點(diǎn)間的絕緣日益破壞,進(jìn)而造成機(jī)器的故障或?qū)θ梭w的危害,例如”SPS內(nèi)的PCB的螺絲鎖緊,可能會(huì)因工作一段時(shí)間后,中間介質(zhì)阻抗改變,造成浮動(dòng)電位,進(jìn)一步破壞PCB內(nèi)部元件,或因ARC的產(chǎn)生,影響SPS的正常工作.因此ARC偵測(cè)的目的在防患未然,也可說(shuō)是產(chǎn)品可靠度試驗(yàn),

c. ARC偵試線路原理：在ARC的定義列ARC為非連續(xù)性的,且約為1KHZ以上的PLUSE OR SPIKE 的高頻信號(hào),因此ARC偵測(cè)線路原理如下：

從被測(cè)物電流訊號(hào)經(jīng)過(guò)兩回路,一為20—PASS  FILTER,20—PASS  FIELTER是將電流信號(hào)轉(zhuǎn)換成RMS值,以便量測(cè)與判定,HI—PASS  FILTER則是當(dāng)被測(cè)物電流信號(hào)有ARC(高頻信號(hào))產(chǎn)生時(shí),將低頻濾掉,只留高頻信號(hào),并經(jīng)過(guò)量測(cè)與判別,以上為ARC偵測(cè)線路原理.

d. ARC功能偵測(cè)計(jì)算：ARC的產(chǎn)生與兩端點(diǎn)間的電壓與距離有關(guān),因此,ARC的產(chǎn)生通常在高壓時(shí)產(chǎn)生,也就是在波峰產(chǎn)生,并且ARC的高頻訊號(hào)也是載在波峰上故計(jì)算與量測(cè)方式都是以MHP：

例(一)：

測(cè)試電壓AC1250VAC時(shí)：

VP=1250*√2=1768V,以電阻500KΩ做介質(zhì)

GAP=兩端點(diǎn)距離調(diào)整至ARC剛好產(chǎn)生,約0.5MM左右

因此,ARC電流為I=V/R=1768/1500K=3.5MAP

從上述來(lái)看,可歐姆定律來(lái)計(jì)算,但此為理論值,故我們必須考慮各種誤差的可能,如GAP大小,電阻含 性等因素.

e. ARC等級(jí)說(shuō)明:

9等級(jí)(0.0027A)

8等級(jí)(0.0055A)

7等級(jí)(0.0077A)

6等級(jí)(0.0100A)

5等級(jí)(0.0120A)

4等級(jí)(0.0140A)

3等級(jí)(0.0160A)

2等級(jí)(0.0180A)

1等級(jí)(0.0200A)

三. 測(cè)試設(shè)備：

1.AC WITHSTANDING VOLTAGE TESTER(交流抗壓測(cè)試器)

2.AC 20W RESISTANCE TESTER(交流低電阻測(cè)試儀)

3.振動(dòng)機(jī)臺(tái).

四.測(cè)試項(xiàng)目

1.HI-POT TEST   (高壓測(cè)試)

2.ARCING TEST   (高弧測(cè)試)

3.GROUND CONTINUITY TEST(接地測(cè)試)

4.INSULATION     (絕緣阻抗測(cè)試)

五.儀器操作(以7440為參考)

1.WITHSTANDING  VOLTAGE  TESTER 選擇項(xiàng)目選按AC-W鍵：

W-VOLT     1500V         （按數(shù)字鍵輸入）

HIIMIT      13MA          (按數(shù)字鍵輸入)

LO-LIMIT    8.0MA         (按數(shù)字鍵輸入)

RAMP TIME    1S           (按數(shù)字鍵輸入)

DWEU TIME    3S           (按數(shù)字鍵輸入)

FREQVENCY   60HZ         (已設(shè)定好)

ARC  SENSE     8           (已設(shè)定好)

ARC  FAIL      ON          (按ENTER鍵切換ON/OFF)

SCANNER SETCH             (未用)

OFFSET                      (未設(shè)定)

CONNECT     ON或OFF     (按ENTER鍵切換ON/OFF)

按“V”鍵上下翻頁(yè)按‘ENTER’自動(dòng)存儲(chǔ),AC或DC請(qǐng)按ENTER鍵切換,設(shè)定一樣欲知詳細(xì)設(shè)定,請(qǐng)參考使用者手冊(cè).

AC  LOW  RESISTANCE  TESTER

先按：GROUNDING后

CURRENT     25A       (已設(shè)定好)

CURRENT      25A         (已設(shè)定好)

VOLTAGE       8V          (已設(shè)定好)

HI-LIMIT      0.1MΩ       (按數(shù)字鍵輸入)

20-LIMIT       0MΩ        (按數(shù)字鍵輸入)

PWELL TIME    2S          (按數(shù)字鍵輸入)

FREQUENCY  60HZ或50HZ  (按數(shù)字鍵輸入)

SCANNER       CH          (未用)

OFFSET                      (未設(shè)定)

CONNCT      ON或OFF     (按ENTER鍵切換)

按‘ENTER’鍵結(jié)束

六.儀器檢查

1.HI-POT的檢查

治具原理:用一個(gè)固定電阻箱檢查HI-POT的輸出電壓,根據(jù)線路原理:U=IR,計(jì)算出治具檢

測(cè)時(shí)之漏電流值,并作DAILY  CHECK之比較依據(jù).    按MEMORY鍵,輸入治具上標(biāo)明之電流參數(shù),接好FAIL SAMPLE按TEST,應(yīng)聽到蜂嗚器的叫聲,且電流值應(yīng)大于FAIL  SAMPLE上標(biāo)明之漏電流值.

七.測(cè)試判定

測(cè)試不良分以下幾種:

BREAKDOWN            OVER FLOW+ARC:輸出過(guò)載, 電弧信號(hào)

SHORT                  OVER FLOW :輸出過(guò)載

HI LIMIT FAIL            OVER HI LIMIT SETTING : 電流過(guò)大失敗

ARC FAIL                >10VS PEAK CURRENT DETECTING

LO LIMIT FAIL           UNDER LO LIMIT SETTING : 電流過(guò)小失敗

OPEN                   CHANGE LO : 直流電壓緩升充電電流

OFL                     OVER FLOW :輸出過(guò)載

主題     Q.耐壓測(cè)試與絕緣電阻測(cè)試之間有什么不同呢？

IR測(cè)試是一種定性測(cè)試，它給出絕緣系統(tǒng)的相對(duì)質(zhì)量的一個(gè)表示。通常用500V或1000V的DC 電壓進(jìn)行測(cè)試，結(jié)果用兆歐電阻來(lái)量測(cè)。耐壓測(cè)試也給被測(cè)物(DUT)施加高壓，但所加電壓比IR 測(cè)試的高。其可以在AC或DC電壓下進(jìn)行。結(jié)果用毫安或微安來(lái)量測(cè)。在有些規(guī)格中，先進(jìn)行IR測(cè)試，接著再進(jìn)行耐壓測(cè)試。如果一個(gè)被測(cè)物(DUT)無(wú)法通過(guò)IR測(cè)試，則此被測(cè)物(DUT)也無(wú)法通過(guò)在更高的電壓下進(jìn)行的耐壓測(cè)試。

主題      Q.泄漏、擊穿(崩潰)和電弧之間有什么不同？

泄漏就是通過(guò)絕緣系統(tǒng)泄漏的電流。擊穿(崩潰)是指通過(guò)或者跨越絕緣系統(tǒng)的破壞性放電，其導(dǎo)致通過(guò)絕緣系統(tǒng)的電流突然大增。電弧是在過(guò)量的泄漏電流流過(guò)時(shí)可能出現(xiàn)也可能不出現(xiàn)的一種情況。當(dāng)被測(cè)設(shè)備的某一區(qū)域的絕緣系統(tǒng)失效，因而電壓自一導(dǎo)體表面向另一導(dǎo)體表面閃電時(shí)就出現(xiàn)電弧。電路的阻抗可能高得足以限制流過(guò)的電流，因而不導(dǎo)致絕緣的完全失效。電弧的強(qiáng)度和它的持續(xù)時(shí)間決定高壓測(cè)試何時(shí)探測(cè)出失效情況。有些高壓儀有靈敏得足以探測(cè)電暈放電的電弧探測(cè)電路。在測(cè)試期間的電暈放電不一定表示初始擊穿情況。有些設(shè)備，尤其是有電動(dòng)機(jī)的設(shè)備，在高壓測(cè)試當(dāng)中通常呈現(xiàn)電暈放電

主題         華儀安規(guī)儀器如何量測(cè)電弧?

電弧是一個(gè)物理現(xiàn)象，華儀電子經(jīng)過(guò)大量的統(tǒng)計(jì)和客戶統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)的反饋，將此物理現(xiàn)象進(jìn)行了量化，使之成爲(wèi)可以量測(cè)的物理量，一般高阻抗電弧與電暈産生的高頻脈沖，其頻率可在低于30千赫至高于1兆赫范圍內(nèi)變動(dòng)，而且持續(xù)時(shí)間可能很短。這些脈沖常常持續(xù)不足10微秒（如圖一），這些短時(shí)脈沖或尖峰信號(hào)不一定會(huì)立即導(dǎo)致?lián)舸┓烹娝钥梢员缓趼浴?/span>

圖一

華儀安規(guī)儀器中有一個(gè)專門的電弧偵測(cè)系統(tǒng)（如圖二），它通過(guò)一個(gè)對(duì)于10KHz以上頻率回應(yīng)的高通濾波器將大于10KHz以上的高頻脈沖信號(hào)輸入一比較器，然后和儀器內(nèi)部的一個(gè)靈敏度調(diào)節(jié)器所産生的資料作比對(duì)，因爲(wèi)華儀經(jīng)過(guò)長(zhǎng)時(shí)間的統(tǒng)計(jì)和客戶反饋認(rèn)爲(wèi)，10KHz以上的電弧脈沖對(duì)于被測(cè)物品質(zhì)帶來(lái)直接影響的機(jī)率最高。儀器內(nèi)部靈敏度分爲(wèi)1～9個(gè)級(jí)別，每個(gè)級(jí)別代表的偵測(cè)的電流峰值。(如表一所示)

圖二

表一

儀器電弧失效報(bào)警顯示的意義：

例如，當(dāng)儀器設(shè)定ARC ON時(shí)，并且選定ARC 靈敏度爲(wèi)出廠預(yù)設(shè)值5時(shí)，儀器檢測(cè)DUT報(bào)警提示 ARC Fail，意味這華儀的安規(guī)儀器，偵測(cè)到該被測(cè)物(DUT)內(nèi)部被偵測(cè)到一個(gè)峰值大于12mApeak，頻率大于10KHz的高頻電弧脈沖。

如何確定選擇靈敏度為多少？

華儀的安規(guī)儀器出廠電弧靈敏度的預(yù)設(shè)值爲(wèi)5，是因爲(wèi)我們自己本身經(jīng)過(guò)統(tǒng)計(jì)，而且我們的一些客戶如IBM也經(jīng)過(guò)長(zhǎng)時(shí)間的使用后統(tǒng)計(jì)的結(jié)果，認(rèn)爲(wèi)5是比較可以接受的一個(gè)數(shù)位，而且IBM還曾經(jīng)書面通知它的外協(xié)廠使用華儀安規(guī)儀器的時(shí)候，將電弧靈敏度設(shè)爲(wèi)5。靈敏度太高可能造成不良率高，不符合成本平衡，太低又可能對(duì)産品的質(zhì)量留下長(zhǎng)遠(yuǎn)的憂患。因此如何選擇靈敏度級(jí)別，應(yīng)該由用戶自己根據(jù)産品特性經(jīng)過(guò)一段時(shí)間的統(tǒng)計(jì)，充分考慮了不良率高低的情況等各種因子，來(lái)決定靈敏度高低。

IEC 60950-1 & IEC 60335-1 新舊版本安規(guī)測(cè)試項(xiàng)目差異比較